电脑薄膜测厚仪是薄膜厚度测定的专用仪器，广泛适用于片状材料厚度测定；是包装、科研及产品质量监督检验等行业和部门理想的试验设备。一键测试，简单易懂；彩色触摸屏，中文显示、触摸按键，使操作变得简单易懂；可用于薄膜、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度精确测量；对金属箔片、铝箔片、铜箔片等硬质材料厚度精确测量；接触式测试原理更有效的检测出太阳能硅片上每个点的厚度值；亦可通过调节测量头可完整纸张规定的压力和面积，完整各种纸张、纸板材料厚度测试；

符合标准：GB/T 451.3，QB/T 1055，GB/T 24328.2，ISO 534，GB/T 6672

≡ 技术参数 ≡

1. 测量范围：0-2mm (其他量程可定制)

2. 分辨率 ：0.1um

3. 测量速度：10 次/分(可调)

4. 测量压力：17.5±1kPa(薄膜)；100±1kPa(纸张) 注：薄膜、纸张任选一种

5. 接触面积：50mm2(薄膜)，200mm2(纸张) 注：薄膜、纸张任选一种

6. 进样步矩：0 ～ 1300 mm(可调)(选配功能)

7. 进样速度：0 ～ 120 mm/s(可调)(选配功能)

8. 外形尺寸：450mm×340mm×390mm

9. 重量：18kg